單芯片集成電路的檢測技術(shù)

發(fā)布日期：2020-07-26

單芯片集成電路消檢電檢技術(shù)

首先，以確保電源電壓正常,。通過接地電源銷與銷之間電壓表測量,，以查看是否電源電壓，如5V常規(guī),。

的下一個步驟是消檢電檢復(fù)位引腳電壓正常,。測定按復(fù)位鍵和釋放復(fù)位按鈕的電壓值，以查看是否正確,。

,，然后消檢電檢晶體振動一般晶體引腳示波器波形是否視圖中使用示波器探頭應(yīng)當(dāng)注意，“X10”簡檔,。

另一種方法是測量IO端口的復(fù)位狀態(tài)下,，按水平并保持復(fù)位鍵，然后測量IO端口（除了連接無外部上拉端口P0）電壓,，以看是否高電平,，如果不高,，主要是因?yàn)樗У臎]有啟動,。

還要注意的地方，如果片內(nèi)ROM,，然后（在大多數(shù)情況下,，所以現(xiàn)在擴(kuò)展ROM的很少有用外），一定要EA引腳為高電平,，否則會程序運(yùn)行周圍的情況出現(xiàn),。有時候，你可以使用模擬器,，但由于EA管腳拉到?jīng)]有理由不被燒毀成片,，經(jīng)常（當(dāng)然，水晶是不是唯一的原因的啟動）,。

消檢電檢上述各點(diǎn),，一般到故障排除。如果系統(tǒng)不穩(wěn)定,，有時造成的,，因?yàn)楦F電源濾波的。微控制器電源引腳與接地銷之間被連接到一個電容器0.1uF的將得到改善,。如果電源濾波電容器不是,，則FO由較大需要電解濾波電容器，例如llowed的220uF / 16V是,。系統(tǒng)不穩(wěn)定的面,，并且電容器可以嘗試（更靠近芯片越好）,。

的其他技術(shù)：

如圖1所示，消檢電檢微控制器晶體腳負(fù)載電壓差

當(dāng)操作載帶是關(guān)于工作電壓的一半,，如果負(fù)載移除時測試,，工作電壓如3V，那么現(xiàn)在是時候工作了一個半腳會出現(xiàn)1.5V,，有可能是另一個1.5?3V,，如果你不工作了近兩個腳3V，但不是絕對的,！

如圖2所示,，以查看是否水晶振動，以確定正確的電源接通電路,，晶體電壓為約1.0V,，我看到的-小0.12V的，其中,，如果所述twoPressure一個引腳不受影響,，然后是重新研磨的重sistance測量，如果沒有阻擋的值,，晶體短路,，如果在功率的情況下施加的電功率，則該晶體被廢棄,。

如圖3所示,，用示波器針晶體振蕩器來測量。

消檢電檢是否正常正弦波,，正常頻率,？

晶體12M，而方波1M ALE引腳輸出的同步,。